AI가 만들어내는 데이터 폭증 시대에 메모리 기술은 어떤 방향으로 진화해야 할까? 특히 지상 데이터센터를 넘어 우주 데이터센터까지 확장되는 미래의 컴퓨팅 인프라에서는 메모리의 신뢰성과 확장성이 어떤 새로운 도전에 직면하게 될까?
SK하이닉스에서 25년간 DRAM 기술 개발에 참여해 온 유민수 담당은 DRAM 메모리의 트랜지스터 개발을 포함한 다양한 DRAM 메모리 제품 개발, 방사선(Radiation)을 포함한 다양한 환경에서의 메모리 제품의 품질 및 신뢰성 향상 활동을 수행해 온 소자 및 신뢰성 전문가이다. 이번 강연에서는 AI 시대를 위한 DRAM 기술의 진화와 함께, 데이터센터와 우주 환경에서 발생할 수 있는 방사선 기반 오류 메커니즘을 설명하고, 이를 극복하기 위한 차세대 메모리 신뢰성(RAS) 기술과 미래 메모리의 발전 방향을 제시한다.
최근 메모리 산업은 RAS(Reliability, Availability and Serviceability) 기술 고도화와 소프트 에러(Soft error) 완화 기술, TSV 및 3D 적층 신뢰성 개선, 저전력·고효율 인터페이스 기술 등을 통해 데이터 안정성과 신뢰성 측면에서 괄목할 만한 진보를 이루었다. 이러한 기술적 축적은 ‘우주 데이터 센터’라는 새로운 응용 영역에서 중요한 기반이 되었다.
본 강연에서는 우주 데이터 센터가 요구하는 기술적 조건과 기존 우주용 메모리와의 차별성을 분석하고, 고성능 AI 메모리가 우주 환경에서 직면할 신뢰성 과제를 조망한다. 또한, 이러한 도전 과제가 메모리 산업에 있어 ‘안정성과 성능의 동시 최적화’라는 새로운 시장 기회로 확장될 수 있음을 제시하고자 한다.